变频器中电子元器件的失效机理与故障分析

电子设备绝大部分的故障最终都是由元器件老化损坏引起，如熟悉各种器件的特性，损坏机理及故障类型，就能依赖万用表简单测电阻，导通压降等很快找出故障，所以了解熟悉电子器件的失效机理和故障现象，对发现分析解决故障有很大帮助。

主要是晶体管，二极管，MOS管，可控硅等，其中关键测试PN结，失效原因一般是设计制造质量，过压，过流，温度，潮湿，老化等引起。

常见故障有：

1）击穿：常由于PN结被电压，电流打坏，引起正反向电阻接近或导通接近0，用数字表PN结档测量很容易测出。但是对一些软故障如热击穿要一定条件下才能出现解决。

2）开路：往往是通过电流过大引起，同上测PN结很容易发现，正反向电阻都无穷大。

3）放大倍数变化，性能下降且受温度影响引起，一般对数字电路影响不大。对模拟放大电路可能引起失真噪音或啸叫。

4）驱动性能下降或失效：对MOS管，由于其栅极一不小心就会被静电击穿造成管子损坏，所以搬移安装中千万注意；可控硅的控制极也有可能击穿损坏，检测中要注意。

不同晶体管结构不同，检查方法也不同，MOS管测内部寄生二极管(续流二极管）

只要击穿了该管子也损坏了。对可控硅从等效电路图来测相应的数值判断。